精準和獨立測量的重要性

Mardenkro 堅定地致力於確保其產品具有良好的科學基礎，因此與瓦赫寧根大學和研究所保持密切聯繫，瓦赫寧根大學和研究所是進行獨立測量和開拓新方法的理想合作夥伴。
 

精準測量是一門藝術。在相同條件下對相同材料進行的兩次測量必須產生相同的結果。如果你想比較材料，你需要一個測量協議，做出任何準確的量測要求。

瓦赫寧根大學和研究所（以下簡稱 WUR）的光實驗室專門研究這個領域。其溫室技術研究小組負責人 Silke Hemming  說：「我們看到透光材料製造商正在開發屬於自己的測量方法。這是非常健全的和一貫的重現性。但缺點是不能與其他使用自己的測量方法的製造商進行比較。只有統一的測量協議存在時才能進行比較。另一個重要因素是由獨立機構進行測量，而不是製造商本身。獨立統一的測量協議提高了整個園藝部門的質量。」

凝結

由 WUR 與種植者協商開發新的『荷蘭 NEN 2675 透光率標準』和『溫室材料散射』將在 2018 年初開始生效。由於技術不斷發展，測量協議和 NEN 標準已經過時，有時甚至還沒有一個協議。Hemming 補充道：「一個很好的例子就是材料上的凝結物。」「我們正在為此設計一種方法。為了引入一個新的協議，這個部門必須有一個協議，而且必須是能被普遍接受的標準。」

在某些行業，標準確實存在。例如：「材料老化就是太陽能行業的標準。 在溫度高、使用化學品的溫室裡，老化的條件是完全不同的。儘管紫外線輻射的影響是可比的，但是現有的太陽能標準並沒有超出前三年，但溫室可以維持至少 15 年。我們正在與 TÜVNederland 技術檢驗服務部門合作，使標準適用於園藝領域。」

抗反射（AntiReflect）

Mardenkro 的許多產品在瓦赫寧根的光實驗室（The LightLab）進行分析。 在塗層分析上，測量值取決於塗層厚度，因此盡可能要標準化。 如新產品 AntiReflect 抗反射塗料，經過塗層處理過的溫室玻璃窗被送到光實驗室檢驗，之後種植者即可收到報告結果。

光實驗室是測量溫室材料的世界先鋒。 實驗室可以測量的性能數量不斷增加：不同入射角度的光透射率、透射光的光譜、霧度和散射、發射率和反射率、凝結、老化、和材料（例如：遮網）的透氣性。

光線追踪（Ray tracing）

除了測量，Mardenkro 還呼籲  Hemming  的研究小組進行計算。一個例子是使用『光線追踪和 Intkam 模型』計算 AntiReflect 抗反射塗層使用的影響，進行初步評估。  Hemming  解釋說：「現場數據不斷地輸入到這些模型中，以進一步驗證它們。例如：我們的冬光溫室（Winterlight）通常使用光線追踪，在光線穿過材料時進行追蹤。首先我們做了計算，然後建立小規模的溫室模型，最後是溫室本身。這些模型與我們在溫室中進行的實際測量之計算幾乎是一致的。」

WUR 不斷尋求優化溫室材料和氣候控制。讓新型的溫室，逐漸被業界所採用，實際上，也與塗料互相競爭。 Hemming 說：「未來，種植者需要衡量昂貴的溫室投資成本，或者使用塗料來優化溫室氣候。」 「塗料的巨大優勢是它們非常靈活，可以在現有的溫室中使用。有一個光明的未來！然而，對於塗料使用上的可持續性要求也有可能在未來某個時候遇到瓶頸。」

智能材料

Mardenkro 是 the Club of 100 的成員，這是一群領先的園藝供應商共同資助和支持 WUR 進行園藝研究。該集團參與了競爭前的項目，一個很好的例子是溫室智能材料。  Hemming 說：「：與恩荷芬科技大學和 Mardenkro 等公司合作，我們正在研究能自行適應不斷變化的材料。 例如：它們可能在更強的陽光下變得更暗或更散射。」她的團隊還為個人企業進行企業對企業的研究。 「結果當然只與客戶分享。」 即使有這樣的研究，我們仍然保持獨立。 我們堅持『荷蘭學術實踐行為守則』，堅持嚴謹、可查核、公正和獨立的原則。 這也符合園藝部門的品質利益。

參考原文：https://goo.gl/3e8Mrq

註、荷蘭 NEN 2675 透光率標準

NEN 2675 提供用於測定溫室園藝中溫室覆蓋材料和屏幕材料的日光透射和光散射的測量方法，其中垂直透射率大於 10％ 。

註、光線追蹤（Ray tracing）

是三維電腦圖形學中的特殊彩現演算法，跟蹤從眼睛發出的光線而不是光源發出的光線，通過這樣一項技術生成編排好的場景的數學模型顯現出來。這樣得到的結果類似於光線投射與掃描線彩現方法的結果，但是這種方法有更好的光學效果，例如對於反射與折射有更準確的模擬效果，並且效率非常高，所以當追求高品質的效果時經常使用這種方法。

在物理學中，光線追跡可以用來計算光束在介質中傳播的情況。在介質中傳播時，光束可能會被介質吸收，改變傳播方向或者射出介質表面等。我們通過計算理想化的窄光束（光線）通過介質中的情形來解決這種複雜的情況。

在實際應用中，可以將各種電磁波或者微小粒子看成理想化的窄波束（即光線），基於這種假設，人們利用光線追跡來計算光線在介質中傳播的情況。光線追跡方法首先計算一條光線在被介質吸收，或者改變方向前，光線在介質中傳播的距離，方向以及到達的新位置，然後從這個新的位置產生出一條新的光線，使用同樣的處理方法，最終計算出一個完整的光線在介質中傳播的路徑。

https://goo.gl/R4PjLG